陰陽離子遷徙測量軟件新產品的介紹
亞鐵離(li)子遷出考(kao)(kao)試操作系統都可(ke)以于(yu)(yu)助焊劑、打(da)印(yin)集成運(yun)(yun)放原理板(ban)(ban)、光(guang)刻膠、釬(han)料、環氧樹脂、導電膠等(deng)有(you)關(guan)于(yu)(yu)打(da)印(yin)集成運(yun)(yun)放原理板(ban)(ban)、高(gao)強度裝封(feng)的建(jian)筑(zhu)資(zi)料、BGA、CSP等(deng)精致化節(jie)距(ju)IC裝封(feng)件(jian)(jian)、生產肥料光(guang)電電子電子原件(jian)(jian)相(xiang)關(guan)的（生產肥料EL)、電阻(zu)、對接器等(deng)的光(guang)電子元電子電子原件(jian)(jian)及(ji)建(jian)筑(zhu)資(zi)料、各樣(yang)電絕緣建(jian)筑(zhu)資(zi)料的透濕性(xing)基本特征(zheng)考(kao)(kao)核(he)。
離子遷移測試系統自主開發連續通電掃描繼電器方式，配備國際標準的測量儀表，與環境試驗箱聯動，操作更簡便更安全。標配 100V 應力電壓（應力電壓 / 測量電壓），更有 1000V、2500V 高電壓規格可選。高速準確捕捉離子遷移現象發生的細微變化，離子遷移實時監測。「E-Graph」可實時編輯預覽監測實時獲得的數據。選配可使連接試樣及線纜更方便，試驗效率更高
陰離子遷徙測試圖片機系統廣泛的使(shi)用設(she)計印刷(shua)PCB線路板板、阻焊uv墨(mo)水、隔絕性(xing)(xing)漆、粘(zhan)膠劑(ji)，裝封環氧樹脂微距離圖案(an)、IC裝封建(jian)材(cai)等隔絕性(xing)(xing)建(jian)材(cai)性(xing)(xing)質受損(sun)性(xing)(xing)質分析，并(bing)且焊錫(xi)(xi)膏、焊錫(xi)(xi)絲、助焊劑(ji)、洗劑(ji)等給予的建(jian)材(cai)隔絕性(xing)(xing)性(xing)(xing)質受損(sun)分析。
該系統的要全面實現IEC、EIA、IPC、GB、GJB、QJ等(deng)重要性測(ce)試圖片實驗室(shi)管(guan)理標準，依(yi)據(ju)將評估報(bao)告(gao)試件放至直(zhi)流(liu)電、高溫高壓高濕室(shi)內環境下，依(yi)據(ju)城市熱力圖檢測(ce)的原素材(cai)隔熱抗阻的變遷，紀要重要性數據(ju)庫和折線，助力操作(zuo)工作(zuo)人員對的原素材(cai)特點(dian)對其進(jin)行考評剖析(xi)。
重要app市場(chang)：數(shu)據通訊的設備、集裝箱(xiang)船汽車的、計算出(chu)來機、飛機維修**、半導體設備，設計印刷集成運(yun)放(fang)板等。
MIR絕緣電阻測試系統主要特點如下。
●可靈活選擇的測試通道數，系統可提供32*n（n=1，2...）不同數量通道。以應對不同批量試樣的測試。
●系統模塊化結構
●高精度絕緣電阻測試.
●系統集成試驗箱溫濕度測試（選配）
●Slot測試參數獨立設置
●測試電纜檢測
●絕緣電阻和漏電流校正
●偏置電壓極性可變換（選配）
●靈活的遷移條件設置
●漏電驗證測試
●測試過程多畫面顯示，易懂易操作。
●高速漏電流監測
●樣品失效保護
●測試中可以修改測試時間
●測試中途暫停,中斷/繼續
●測試數據自動保存
●獨立的數據分析和報告軟件
●測試報告一鍵輸出。
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