陰離子遷入測試測試模式產品的分享
化合物遷址(zhi)檢查體系也可以于助焊劑、油墨(mo)(mo)柔印線(xian)路板板、光刻膠(jiao)、釬料、樹脂材(cai)質(zhi)、導(dao)電膠(jiao)等有關的信息(xi)油墨(mo)(mo)柔印線(xian)路板板、高導(dao)熱(re)系數封(feng)口的材(cai)質(zhi)、BGA、CSP等精密細(xi)節距(ju)IC封(feng)口件、可揮(hui)發(fa)半導(dao)對應（可揮(hui)發(fa)EL)、濾波電容、連結器(qi)等許多網絡元器(qi)材(cai)及材(cai)質(zhi)、很多隔(ge)熱(re)材(cai)質(zhi)的吸(xi)水性性性能特(te)點評估報告(gao)格式。
離子遷移測試系統自主開發連續通電掃描繼電器方式，配備國際標準的測量儀表，與環境試驗箱聯動，操作更簡便更安全。標配 100V 應力電壓（應力電壓 / 測量電壓），更有 1000V、2500V 高電壓規格可選。高速準確捕捉離子遷移現象發生的細微變化，離子遷移實時監測。「E-Graph」可實時編輯預覽監測實時獲得的數據。選配可使連接試樣及線纜更方便，試驗效率更高
鋁(lv)離子變(bian)更測驗操(cao)作(zuo)系(xi)統(tong)普遍應用于印刷控制集成電路板(ban)、阻焊膠(jiao)印油墨、耐壓(ya)帶帶漆、膠(jiao)水粘(zhan)劑，封裝硅膠(jiao)粘(zhan)合(he)劑微差距圖(tu)行、IC封裝建(jian)筑(zhu)村(cun)料(liao)等耐壓(ya)帶帶建(jian)筑(zhu)村(cun)料(liao)屬性(xing)受損(sun)屬性(xing)測評(ping)，及(ji)及(ji)焊錫(xi)膏、焊錫(xi)絲、助焊劑、潔凈劑等誘發(fa)的建(jian)筑(zhu)村(cun)料(liao)耐壓(ya)帶帶屬性(xing)受損(sun)測評(ping)。
該程序就可以(yi)有(you)效需要滿足(zu)IEC、EIA、IPC、GB、GJB、QJ等(deng)各(ge)種關聯試驗標準，去(qu)將估評制樣放至髙壓、高溫天氣高濕學習環境下，去(qu)去(qu)監測站建(jian)材(cai)絕緣(yuan)帶電位差的變(bian)化(hua)，收錄各(ge)種關聯數據報(bao)告和曲(qu)線擬合(he)，鼓勵(li)運行員(yuan)對建(jian)材(cai)因素去(qu)量化(hua)分(fen)析一下分(fen)析一下。
常見采用(yong)業內(nei)：通迅機器(qi)、船舶制造氣車、核算(suan)機、民用(yong)航空**、半導體行業，設計印刷pcb線路板板等。
MIR絕緣電阻測試系統主要特點如下。
●可靈活選擇的測試通道數，系統可提供32*n（n=1，2...）不同數量通道。以應對不同批量試樣的測試。
●系統模塊化結構
●高精度絕緣電阻測試.
●系統集成試驗箱溫濕度測試（選配）
●Slot測試參數獨立設置
●測試電纜檢測
●絕緣電阻和漏電流校正
●偏置電壓極性可變換（選配）
●靈活的遷移條件設置
●漏電驗證測試
●測試過程多畫面顯示，易懂易操作。
●高速漏電流監測
●樣品失效保護
●測試中可以修改測試時間
●測試中途暫停,中斷/繼續
●測試數據自動保存
●獨立的數據分析和報告軟件
●測試報告一鍵輸出。
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