鋁離子變遷測試機系統設備價紹
化(hua)合物遷(qian)入測量(liang)系(xi)統能用于(yu)助(zhu)焊劑、柔印(yin)線路(lu)板、光刻(ke)膠(jiao)、釬(han)料、不飽和樹脂、導電膠(jiao)等關以柔印(yin)線路(lu)板、高(gao)低密(mi)度裝(zhuang)封的(de)(de)(de)村(cun)料、BGA、CSP等精(jing)致節(jie)距(ju)IC裝(zhuang)封件、有機會的(de)(de)(de)半導體行業有關系(xi)（有機會的(de)(de)(de)EL)、電容器(qi)、相連器(qi)等其(qi)他的(de)(de)(de)電子(zi)(zi)為了滿足電子(zi)(zi)時代發展的(de)(de)(de)需求，元器(qi)材(cai)及村(cun)料、各項絕(jue)緣帶(dai)村(cun)料的(de)(de)(de)吸(xi)水(shui)性性形態評估報告格式。
離子遷移測試系統自主開發連續通電掃描繼電器方式，配備國際標準的測量儀表，與環境試驗箱聯動，操作更簡便更安全。標配 100V 應力電壓（應力電壓 / 測量電壓），更有 1000V、2500V 高電壓規格可選。高速準確捕捉離子遷移現象發生的細微變化，離子遷移實時監測。「E-Graph」可實時編輯預覽監測實時獲得的數據。選配可使連接試樣及線纜更方便，試驗效率更高
鐵離(li)子遷出(chu)檢查體系大量應用在印刷(shua)線路(lu)板、阻(zu)焊印刷(shua)油墨(mo)、耐(nai)壓(ya)(ya)漆、膠水(shui)粘劑(ji)，封裝(zhuang)硅橡(xiang)膠微(wei)行距原型(xing)、IC封裝(zhuang)涂料(liao)等(deng)耐(nai)壓(ya)(ya)涂料(liao)功(gong)能受損優點考核，及及焊錫膏(gao)、焊錫絲(si)、助(zhu)焊劑(ji)、進(jin)行維護(hu)清潔劑(ji)等(deng)促使的涂料(liao)耐(nai)壓(ya)(ya)功(gong)能受損考核。
該系(xi)統化要能有(you)力擁有(you)IEC、EIA、IPC、GB、GJB、QJ等有(you)關于(yu)考(kao)試技術(shu)規(gui)范，實(shi)現將評價指標制樣至于(yu)高(gao)(gao)壓低壓、高(gao)(gao)溫(wen)高(gao)(gao)濕區域環境下，實(shi)現實(shi)時時間(jian)監測統計資料食材(cai)絕緣(yuan)層阻抗(kang)匹配的(de)變動，登(deng)記有(you)關于(yu)統計資料和的(de)曲線，幫助到使用的(de)工(gong)作員對食材(cai)基本(ben)特征做好(hao)評定淺析。
常見選用服務行業(ye)：通(tong)信系(xi)統、船舶制造汽車、計算公式機、空(kong)航**、半導體(ti)材(cai)料，印刷電源線(xian)路板等。
MIR絕緣電阻測試系統主要特點如下。
●可靈活選擇的測試通道數，系統可提供32*n（n=1，2...）不同數量通道。以應對不同批量試樣的測試。
●系統模塊化結構
●高精度絕緣電阻測試.
●系統集成試驗箱溫濕度測試（選配）
●Slot測試參數獨立設置
●測試電纜檢測
●絕緣電阻和漏電流校正
●偏置電壓極性可變換（選配）
●靈活的遷移條件設置
●漏電驗證測試
●測試過程多畫面顯示，易懂易操作。
●高速漏電流監測
●樣品失效保護
●測試中可以修改測試時間
●測試中途暫停,中斷/繼續
●測試數據自動保存
●獨立的數據分析和報告軟件
●測試報告一鍵輸出。
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