歷時一周的中新國際半導體材料公測多而暨公測“年度最佳品牌獎”頒獎典禮圓滿結束。祝賀上海柏毅試驗設備有限公司獲得“2022-2023中國半導體封測設備最佳品牌獎”。
鄭州柏毅展覽了適用人群于半導體芯片(pian)行業后道測(ce)(ce)試方法英文的半導體芯片(pian)行業測(ce)(ce)試方法英文生產設備PCT高壓力(li)電會(hui)加快光(guang)損(sun)壞(huai)(huai)測(ce)(ce)量箱(xiang)(xiang)(xiang)（名(ming)叫PCT高壓力(li)電會(hui)加快光(guang)損(sun)壞(huai)(huai)現(xian)場(chang)實(shi)驗(yan)檢測(ce)(ce)箱(xiang)(xiang)(xiang)、PCT現(xian)場(chang)實(shi)驗(yan)檢測(ce)(ce)箱(xiang)(xiang)(xiang)等）、工(gong)作攝氏度循壞(huai)(huai)法現(xian)場(chang)實(shi)驗(yan)檢測(ce)(ce)箱(xiang)(xiang)(xiang)（如何快速工(gong)作攝氏度循壞(huai)(huai)法現(xian)場(chang)實(shi)驗(yan)檢測(ce)(ce)箱(xiang)(xiang)(xiang)）。
PCT高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)加速老化(hua)測(ce)(ce)試也稱為壓(ya)(ya)力(li)鍋蒸(zheng)(zheng)煮試驗或是飽和(he)蒸(zheng)(zheng)汽試驗,將被(bei)(bei)測(ce)(ce)品(pin)放置在嚴(yan)苛的(de)(de)溫度(du)、飽和(he)濕(shi)度(du)(100%RH過(guo)剩水液體(ti)）及重壓(ya)(ya)壞境下測(ce)(ce)試儀,驗測(ce)(ce)被(bei)(bei)測(ce)(ce)品(pin)耐(nai)高(gao)(gao)(gao)濕(shi)程度(du)素質。真對PCB&FPC用(yong)(yong)采(cai)取(qu)裝(zhuang)(zhuang)修用(yong)(yong)料透濕(shi)率校(xiao)正、直(zhi)(zhi)流(liu)電蒸(zheng)(zheng)炒校(xiao)正等(deng)校(xiao)正目地。倘若被(bei)(bei)測(ce)(ce)品(pin)是半導體(ti)器(qi)(qi)(qi)件器(qi)(qi)(qi)件設備得話，則用(yong)(yong)自測(ce)(ce)半導體(ti)器(qi)(qi)(qi)件器(qi)(qi)(qi)件設備裝(zhuang)(zhuang)封(feng)類(lei)(lei)型(xing)(xing)的(de)(de)抗體(ti)內空(kong)氣(qi)中的(de)(de)濕(shi)氣(qi)程度(du)素質。將被(bei)(bei)測(ce)(ce)品(pin)擺(bai)放在在嚴(yan)于的(de)(de)溫干濕(shi)度(du)各種壓(ya)(ya)力(li)值(zhi)工作環境下自測(ce)(ce),倘若半導體(ti)器(qi)(qi)(qi)件器(qi)(qi)(qi)件設備裝(zhuang)(zhuang)封(feng)類(lei)(lei)型(xing)(xing)越(yue)來越(yue),體(ti)內空(kong)氣(qi)中的(de)(de)濕(shi)氣(qi)會確認溶液或溶液與高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)導線架(jia)直(zhi)(zhi)接(jie)的(de)(de)接(jie)口(kou)類(lei)(lei)型(xing)(xing)流(liu)進(jin)裝(zhuang)(zhuang)封(feng)類(lei)(lei)型(xing)(xing)體(ti)中。一般的(de)(de)故裝(zhuang)(zhuang)根(gen)本原因(yin):爆(bao)米花相應、動鋁合金(jin)化(hua)區城耐(nai)腐蝕造之斷路、裝(zhuang)(zhuang)封(feng)類(lei)(lei)型(xing)(xing)體(ti)引腳間因(yin)被(bei)(bei)污染造之發生故障等(deng)重要(yao)性大問題。使(shi)用(yong)(yong)于兩層(ceng)層(ceng)面(mian)板、光(guang)伏發電插件、EVA、IC、LED、LCD、磁塊裝(zhuang)(zhuang)修用(yong)(yong)料、滿分子式(shi)裝(zhuang)(zhuang)修用(yong)(yong)料等(deng)軟(ruan)件封(feng)嚴(yan)性能指(zhi)標的(de)(de)驗測(ce)(ce)。
